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        天眼查新三板

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        新三板創(chuàng)新層公司晟矽微電新增專利信息授權(quán):“芯片測(cè)試裝置”

        2022-01-22 12:12:35

        每經(jīng)訊,據(jù)啟信寶,新三板創(chuàng)新層公司晟矽微電(430276)新增專利信息,專利權(quán)人為晟矽微電,發(fā)明人是吳驍、于宏新、張文榮。專利授權(quán)日為2022年1月21日,專利名稱為“芯片測(cè)試裝置”,專利類型為中國(guó)實(shí)用新型專利,專利申請(qǐng)?zhí)枮镃N202121357360.9。

        該專利摘要顯示:本實(shí)用新型涉及一種芯片測(cè)試裝置,所述裝置包括控制模塊、測(cè)試模塊,控制模塊根據(jù)控制信息實(shí)現(xiàn)對(duì)測(cè)試模塊的控制,以使得測(cè)試模塊對(duì)連接的至少一個(gè)待測(cè)芯片進(jìn)行測(cè)試;測(cè)試模塊,包括處理單元、測(cè)試單元、接口單元、供電及復(fù)位單元,處理單元用于與所述控制模塊、測(cè)試單元及供電及復(fù)位單元通信,通過(guò)測(cè)試單元及接口單元將測(cè)試程序?qū)懭氪郎y(cè)芯片并根據(jù)控制程序執(zhí)行相應(yīng)的測(cè)試,供電及復(fù)位單元通過(guò)開(kāi)關(guān)單元選擇第一單元、第二單元、第三單元、第四單元的任意一個(gè)或多個(gè)的輸出電壓對(duì)測(cè)試模塊和/或待測(cè)芯片供電。本實(shí)用新型實(shí)施例可以對(duì)至少一個(gè)待測(cè)芯片進(jìn)行快速、自動(dòng)、準(zhǔn)確測(cè)試,得到清晰、可靠的測(cè)試結(jié)果,人工干預(yù)少,成本低,效率高。

         

        (記者 湯輝)

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